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NIB-3195A型D/A测试仪_A/D测试仪
NIB-3195A型D/A测试仪_A/D测试仪
型号:NIB-3195A
产地:
品牌:其他品牌
价格:面议
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D/A测试仪参考美国GR1731测试系统的模式,,采用模块化结构,并继承了BJ3125型中小规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型线性IC测试仪。该系统配A/D D/A测试系列板,可测试12位以下的A/D D/A。用于整机厂、研究单位的器件验收测试及其它应用测试。
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